Image of Perangkat nanoteknologi : pengetahuan dasar mikroskopi proba pemindai (scanning probe microscopy)

Text

Perangkat nanoteknologi : pengetahuan dasar mikroskopi proba pemindai (scanning probe microscopy)

Penilaian

0,0

dari 5
Penilaian anda saat ini :  

Pengetahuan Dasar Mikroskopi Proba Pemindai. Karya ini adalah sebuah buku-teks bagi sarjana dan mahasiswa magister, yang membaktikan pada teknik penyelidikan paling mutakhir terhadap permukaan benda-tegar Mikroskopi Proba Pemindai (Scanning Probe Microscopy, SPM). Buku ini menelaah jenis-jenis dasar SPM : Scanning Tunnel Microscopy (STM), Atomic Force Microscopy (AFM), Electric Force Microscopy (EFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Near-field Optical Microscopy (NOM), Yang telahh dipakai secara luas dalam berbagai kegiatan riset ilmiah.

Ketersediaan
HE20210004HE 620.5 MIR pMy LibraryTersedia
Informasi Detail
Judul Seri
-
No. Panggil
620.5 MIR p
Penerbit
Jakarta : Wahana Petra Nusa.,
Deskripsi Fisik
99 hlm
Bahasa
Indonesia
ISBN/ISSN
9792553703
Klasifikasi
620.5
Tipe Isi
-
Tipe Media
-
Tipe Pembawa
-
Edisi
-
Subjek
Teknik Sipil
Info Detail Spesifik
-
Pernyataan Tanggungjawab
Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas
Komentar
Anda harus masuk sebelum memberikan komentar